반도체 양산 테스트의 효율성 향상 및 테스트 비용 절감
NI는 프로그래밍 및 디버깅 환경, 테스트 실행 속도, 병렬 테스트 효율성은 물론, NI STS(반도체 테스트 시스템)의 전반적인 장비 효율성을 대폭 향상하는 새로운 STS 소프트웨어 개선 사항을 발표했다.
시장 상황이 제약을 받게 됨에 따라 반도체 양산 테스트 엔지니어는 생산에 필요한 새로운 테스트 프로그램을 개발, 디버깅 및 배포하는 프로세스를 가속화하기를 원한다. STS 소프트웨어 2019는 테스터에 액세스할 수 없는 사용자에게 테스트 프로그램을 개발할 수 있는 향상된 오프라인 환경을 제공한다.
추가적인 개선 사항에는 중복 인스트루먼트 프로그래밍을 위해 간소화된 드라이버 환경과 사용 편의성이 뛰어난 디지털 스캔 지원이 포함되어 있다. 또한 향상된 디버깅 환경 덕분에 관련 DUT 사이트와 핀을 선택하기만 하면 멀티사이트 애플리케이션에서 대화식 측정을 신속하게 수행하고 자동화 테스트를 디버깅할 수 있다.
반도체 운영 및 제조 담당자 역시 동일한 시장 상황으로 인해 패키징 및 테스트 장비를 지속적으로 최적화하여 수익성을 개선해야 한다는 부담을 안고 있다. STS 소프트웨어 2019는 테스트 실행 시간을 단축하는 최적화된 계측 드라이버와 병렬 테스트 효율성을 높이는 향상된 스레드 관리를 바탕으로 테스트 처리량을 증대시킨다. 또한 STS에서는 소프트웨어 전환 시간을 단축하여 로트 간에 테스터 설정을 바꿔야 할 경우에 대비하므로 활용률이 높아질 뿐만 아니라 전반적인 장비 효율성을 개선할 수 있다.
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