고정밀 측정과 확장형 테스트 환경 지원...시험·계측 시스템 성능 향상
에이디링크 테크놀로지는 두 가지 새로운 PXI Express 제품인 PXIe-9908 SMU(Source Measurement Unit)와 PXES-2596 PXI Express 섀시를 공개한다고 발표했다.
정밀 측정과 확장 가능한 테스트 아키텍처에 대한 증가하는 수요를 충족하도록 설계된 이 새로운 플랫폼은 반도체, 전자, 광전자 부품의 검증 및 테스트를 위해 정확한 전기적 특성 평가와 유연한 시스템 통합을 가능하게 한다. 또한 PXI 포트폴리오를 확장함으로써 에이디링크는 모듈형, 동기화, 그리고 양산 환경에 바로 적용 가능한 T&M (시험·계측) 솔루션에 대한 요구를 계속해서 충족하고 있다고 업체 측은 밝혔다.
이에 대해 에이디링크의 제품 부서 시니어 매니저인 Andy Tseng은 “현대의 자동화된 테스트 시스템은 측정 수준에서의 정밀도와 시스템 수준에서의 확장성을 모두 요구한다”며, “PXIe-9908과 PXES-2596을 통해 고객들은 검증 단계부터 대량 생산까지 효율적으로 확장할 수 있는 유연한 PXI 플랫폼을 구축할 수 있다”고 전했다.
PXIe-9908은 디바이스 특성 분석, IC 테스트, 신뢰성 검증에서 정밀한 전압 및 전류 소싱과 측정을 위해 설계된 8채널, four-quadrant SMU(Source Measurement Unit)이다. 최대 100 ks/s 업데이트 속도 와 1M samples/s를 지원해 빠른 측정이 가능하며, 높은 정밀도를 통해 저레벨 신호도 정확하게 감지할 수 있다. 이러한 특성으로 첨단 반도체 및 저전력 전자 제품 테스트에 이상적이라는 설명이다.
업체 측에 따르면, PXES-2596 PXI Express 섀시는 고대역폭 Gen3 PXI Express 백플레인을 기반으로 한 컴팩트한 9 또는 12 슬롯 플랫폼을 제공하여, 다중 모듈 테스트 환경에서 안정적인 데이터 처리 성능을 보장한다. 표준 섀시 제품 외에도 백플레인만도 제공되며, 여기에는 사전 장착된 히트싱크, 온보드 써멀 센서, 그리고 팬 커브 지원 기능이 포함되어 고객이 자체적으로 구축하는 시스템에 쉽게 통합할 수 있다. 이러한 유연성 덕분에 맞춤형 기구 및 열 설계가 필요한 ODM과 시스템 통합업체에 이상적인 솔루션이다.
에이디링크는 시스템 통합을 간소화하는 동시에 측정 정확도, 동기화 성능, 그리고 전반적인 테스트 효율성을 향상시키는 데 기여한다고 밝혔다. 이번에 출시된 새로운 플랫폼은 테스트 개발 사이클을 가속화하고 반도체 및 산업용 테스트 환경에서 변화하는 요구사항을 지원하기 위해, 유연하고 맞춤화 가능한 PXI 솔루션을 제공하려는 에이디링크의 지속적인 노력을 보여준다.
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