TI, 더 정확하고 빨라진 아날로그-디지털 컨버터(ADC) 제품 출시
  • 2019-05-28
  • 박종배 기자, jbpark@elec4.co.kr

8GHz 대역폭과 10.4GSPS 샘플링 속도의 주파수 스펙트럼 제공
5G 시험, 오실로스코프, 레이더 애플리케이션 지원


TI는 넓은 대역폭과 빠른 샘플링 속도, 그리고 낮은 전력 소모를 특징으로 하는 새로운 초고속 아날로그-디지털 컨버터(ADC) 제품을 출시한다고 밝혔다. 새롭게 공개되는 ADC12DJ5200RF는 5G 시험 애플리케이션과 오실로스코프의 측정 정확도를 향상시키고, 레이더 애플리케이션으로 바로 X-밴드 샘플링을 실행할 수 있다.
 

넓은 주파수 스펙트럼으로 측정 속도 향상

경쟁 디바이스 대비 약 20%가량 더 넓은 8GHz의 아날로그 입력 대역폭을 제공한다. 이를 통해 엔지니어들은 추가적인 하향 변환을 하기 위해서 전력 소모, 비용, 크기를 늘릴 필요 없이 초고주파를 바로 디지털화 할 수 있다.

듀얼 채널 모드에서 5.2GSPS의 속도로 샘플링하고, 12비트 분해능에서 2.6GHz까지의 순간 대역폭(IBW)을 포착할 수 있다. 또한 단일 채널 모드에서는 10.4GSPS의 샘플링 속도와 5.2GHz 이상의 순간 대역폭을 포착할 수 있다.

JESD204C 표준 인터페이스를 지원하는 최초의 GSPS ADC로서, 필드 프로그래머블 게이트 어레이(FPGA)로 데이터를 출력하기 위해 필요한 직렬변환기/직병렬변환기 레인 수를 최소화해 전송 속도를 더욱 높일 수 있다. 
 
전력공급 및 온도 변화에도 높은 성능과 안정성 제공

전력 공급이 변동되는 상황을 맞이해도 최대의 역동적 성능을 발휘할 수 있도록 해준다. 매우 높은 리시버 감도로 아주 작고 약한 신호까지도 감지할 수 있다. 또한 디더링 기능도 포함하고 있어 스퓨리어스 제거(spurious-free) 성능 또한 우수하다.

±300mV의 낮은 오프셋 오차와 제로 온도 드리프트로 시스템 오류를 최소화하고 극히 낮은 수준의 코드 오류율(CER)을 특징으로 하기에, 시험 계측 장비로 측정 시, 경쟁 디바이스 대비 약 100배 정도 더 우수한 정밀 반복도를 달성할 수 있다.
 
솔루션 크기는 30%까지, 전력 소비량은 20%까지 감소

디스크리트 솔루션에 비해 약 30%가량 작은 10mm x 10mm 크기로, 보드 공간을 확보해준다. 또한 TI의 새로운 초고속 ADC는 필요한 레인 수를 줄여 인쇄회로기판(PCB) 디자인을 더욱 간소화할 수 있다는 이점이 있다. 경쟁 디바이스 대비 약 20% 정도 낮은 4W의 전력 소모로, 엔지니어들이 설계 시 발생하는 열을 최소화하고 열 관리를 용이하게 할 수 있도록 지원한다.
 
또한, ADC12DJ5200RF는 ADC12DJ3200, ADC12DJ2700, ADC08DJ3200와 같은 TI의 다른 GSPS ADC 제품과 핀 호환이 가능해 설계 변경 시 소요되는 시간과 비용을 최소화할 수 있으며, 2.7GSPS 부터 10.4GSPS 속도까지 편리하게 업그레이드할 수 있다.

설계 시간을 단축시키는 툴 및 지원

ADC12DJ5200RFEVM과 TSW14J57EVM 평가 모듈을 통해 TI의 새로운 초고속 ADC를 손쉽게 평가할 수 있다. 이들 평가 모듈은 현재 TI store와 공식 유통판매 채널을 통해 구입할 수 있다. 엔지니어들은 “클로킹 및 전력 공급 최적화를 위한 멀티칩 동기화 레퍼런스 디자인”을 참고해 ADC12DJ5200RF를 채택해서 개발을 시작할 수 있다.
 
공급 및 패키징

현재 TI store에서 ADC12DJ5200RF 듀얼 채널 및 단일 채널 초고속 ADC 샘플을 공급하고 있으며, 해당 제품은 144볼 10mm x 100mm FCBGA(flip-chip ball grid array) 패키지로 제공된다.

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