멘토 그래픽스의 회로 결함 측정 솔루션, ‘2016 올해의 제품상’ 수상
테센트 디펙심(Tessent® DefectSim™)

  • 2017-01-25
  • 김영학 기자, yhk@elec4.co.kr

반도체 설계 자동화(EDA) 기술 및 시장을 선도하는 한국 멘토그래픽스(대표 양영인)는 1월 25일 아날로그 회로나 혼성신호 회로에 적용되는 모든 테스트의 결함 커버리지를 측정하는 솔루션인 테센트 디펙심(Tessent® DefectSim™) 제품이 세계적인 IT 전문지인 ‘일렉트로닉 프로덕트 매거진(Electronic Products magazine)’으로부터 ‘2016 올해의 제품상’을 수상했다고 밝혔다. 

Tessent DefectSim 제품은 아날로그나 혼성신호 회로에 적용되는 모든 테스트의 결함 범위를 측정한다. 디자이너는 이 툴을 이용해 DFT(Design-for-Test)와 보다 효과적인 제조 테스트의 선택이 이루어지도록 이끌어 IC 설계 시 아날로그 및 혼성신호 회로의 품질을 향상시킬 수 있다.

또한 테스트 범위를 증대시키지 못하는 테스트가 어떤 것이며, 보다 단순하거나 보다 빠른 테스트로 보다 큰 테스트 범위를 달성할 수 있는 지의 여부를 보여주므로 테스트 엔지니어는 테스트 비용을 절감할 수 있게 된다. 자동차용 IC의 결함범위 측정 요구가 증가하고 있는 가운데, 이 툴은 자동차 분야의 일차 공급업체들이 ISO 26262 자동차 기능 안전 표준에 따라 정한 해당 요건을 충족시켜준다.


Tessent DefectSim 툴은 멘토의 설계 디자인 자동화 검증 솔루션인 Eldo® 및 Questa® ADMS™ 시뮬레이터와 함께 동작하여 개로, 단락, 극단적인 변화 그리고 레이아웃 추출 넷리스트나 스키매틱 넷리스트 내에서 검출될 수 있는 사용자 정의 결함이나 결함 모델의 우도 가중치 백분률(likelihood-weighted percentage)을 측정한다.

Tessent DefectSim은 동료심사 논문(peer-reviewed papers)에서 설명된 여러 기술들을 결합시켰기 때문에 플랫 레이아웃 추출 넷리스트의 모든 잠재적 결함들을 시뮬레이션 하는 경우에 비해 총 시뮬레이션 시간이 대폭 단축되면서도 시뮬레이션 정확도나 테스트 선택권은 줄어들지 않는다. 

멘토 그래픽스의 혼성신호 DFT사업부 엔지니어링 디렉터인 스티븐 썬터(Stephen Sunter)는 “이 분석 툴이 이처럼 업계의 인정을 받게 되어 매우 기쁘게 생각한다. 여러 해에 걸쳐 개발된 이 분석 툴은 시판되는 상용제품 중에 유일한 범용 아날로그 결함 시뮬레이터이다”라고 말하고, “Tessent DefectSim을 평가해주고 그토록 많은 건설적 피드백을 제공해준 수많은 고객들께 감사의 말씀을 드린다. 덕분에 고객들의 아날로그 및 혼성신호 디자이너들도 디지털 디자이너들이 지난 30 년간 누려온 결함 시뮬레이션 능력을 갖추도록 도울 수 있게 됐다. 이러한 능력은 디지털 DFT 및 테스트 생성의 자동화 분야에서 엄청난 발전을 가져온 바 있다”라고 말했다. 

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